| 半導体技術ロードマップ専門委員会 | |
| Semiconductor Technology Roadmap Committee of Japan |
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ＳＴＲＪワークショップでの講演スライドがご覧になれます。 3/9 STRJ WS 「半導体技術ロードマップ専門委員会」 第一部 『ITRS 2005に見る今後のLSI技術の方向性』 |
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International Roadmap Committee (IRC) 「ITRS 2005の概要」 石内 秀美 (STRJ委員長： 東芝) |
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設計タスクフォース 「低電力SoCのロードマップ ―DFMの検討とバラツキが低電力SoCの性能に及ぼす影響評価―」 浅田 善己 (設計TFサブリーダ： 富士通) |
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設計WG 「設計技術ロードマップ ―SoC設計技術ロードマップの見直し―」 柏木 治久 (WG1リーダ： NECエレクトロニクス) |
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テストWG 「DFTとATEとの更なる融合 ―テストコスト削減のためのチップ設計からテスティングまで―」 西村 安正 (WG2リーダ： ルネサステクノロジ) |
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特別講演： 「細胞生体機能シミュレーションと細胞機能計測」 小寺 秀俊 氏 (京都大学) |
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特別講演： 「ばらつきを克服する設計技術」 小野寺 秀俊 氏 (京都大学) |
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特別講演： 「微細MOSFET真性ばらつき問題へのTCADからの取り組み」 羽根 正巳 氏 (NEC) |
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「半導体産業・技術開発の経済性検討小委員会」の部 |
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「450ｍｍ工場移行の経済性 ―迫りくる工場高価格化の脅威―」 長田 俊彦 (STRJ副委員長： 富士通) |
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「300mmプライム･プロジェクト ―第2世代300mm工場の動向―」 本間 三智夫 (WG8リーダ： NECエレクトロニクス) |
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「450mm Position Paper 2005 ―450mmウェーハ白書2005年版―」 渡辺 正晴 (WG3特別委員： ニューフレアテクノロジ) |
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