半導体技術ロードマップ専門委員会 タイトル
Semiconductor Technology Roadmap Committee of Japan
 
ＳＴＲＪワークショップでの講演スライドがご覧になれます。
3/8　STRJ WS 「半導体技術ロードマップ専門委員会」 第一部
『ITRS 2006 Update に見る今後のLSI技術の方向性』
 
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 International Roadmap Committee (IRC)
「ITRS 2006の概要」
                            石内　秀美　(STRJ委員長： 東芝)
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 Process-Integration and Device Structures (PIDS) WG
「2006年Updateの内容と200７年版に向けて　―High-k/Metal-Gの導入時期見直し―　」
                            井田　次郎 (ＷＧ6　リーダ： 沖電気)
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 Emerging　Research　Deviceｓ（ERD）　WG
「新探究デバイス　―More Than MooreとBeyond CMOSの考え方―　」
                            平本　俊郎 (WG12リーダ： 東京大学)
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 Emerging　Research　Materials（ERM）　WG
「新探求材料　―ERMのスコープと活動方針―」
                            粟野　祐二 (WG13リーダ： 富士通)
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 特別講演
「MOSFETの特性ばらつき予測とコンパクトモデルの役割」
                            三浦　道子 氏 (広島大学)
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 特別講演
「設計から見た3次元SiPソリューション」
                            桜井　貴康 氏　(東京大学)
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 特別講演
「半導体集積回路インターコネクト技術」
                            吉川　公麿氏 (広島大学)
※吉川先生が資料非公開を希望されておりますので、資料は掲載いたしておりません。
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 実装WG
「半導体パッケージ技術の動向　―デジタル家電の小型化・高性能化を担うSiP技術―　」
                            春田　亮 (ＷＧ7　リーダ： ルネサステクノロジ)
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 ファクトリインテグレーションWG
「生産納期短縮と能動的工場の可視化　―次世代300mmラインに向けて―　」
                            平井　都志也 (WG8リーダ： ソニーセミコンダクタ九州)
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 ES&H WG
「環境側面から見た半導体工場の将来像　― 今後の課題とグリーンファブコンセプト ―」
                            大越　隆之 (WG9委員： NECエレクトロニクス)
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 故障解析技術タスクフォース
「半導体物理解析における球面収差補正電子顕微鏡への期待」
                            朝山　匡一郎　(TF委員：ルネサステクノロジ）
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 故障解析技術タスクフォース
「標準化SWG活動報告　故障解析関連の標準化」
                            寺田　浩敏　(TF特別委員： 浜松ホトニクス)
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問合わせ先：
社団法人　電子情報技術産業協会
半導体技術ロードマップ専門委員会事務局
０３－５２７５－７２５８
mailto:roadmap@jeita.or.jp